可四端子2极对压测量膜片不同压力下的电阻率、厚度
可四端子2极对压测量粉体材料不同压力下的电阻率、压实密度
可四探针法测量膜片的电阻率
可四探针法测量粉体材料不同压力下的电阻率、压实密度
各种测试切换快速简便
电阻精度可到微欧级,厚度测量精度可到亚微米级
膜片、粉体材料都可测试
四探针和2极法在一台机上实现
参数\型号 | MFDZ-1TDCR | MFDZ-5TDCR | MFDZ-1TACR |
压力 kg | 1000 | 5000 | 1000 |
电阻范围 | 0.1uΩ~1000MΩ | 交流0.1µΩ~3KΩ | |
厚度分辨率 | 0.01um | ||
厚度精度 | ±0.5um | ||
电阻精度 | 0.05%FS | 0.5%FS | |
压力精度 | 0.5%FS | ||
样品形态 | 片料、粉体、膜片、块料 | ||
四探针 | 有 | ||
四线2端子 | 有 | ||
面电阻 | 有 | ||
压实密度 | 有 |
1、1#和2#粉体为同种不同批次材料,从电阻率vs 压强曲线2者重合,但对数据分析,2#的变异系数更低,说明2#批次的工艺条件更稳定。
2、膜片测试数据
膜片不同位置的电阻率压强曲线
3、标准块厚度和电阻重复性测试数据
重复测量20次厚度数据评估
重复测量20次电阻数据评估
1、用于电池配方设计和优化,通过测不同膜片电阻率评估配方优劣,添加剂含量是否合适,无需做成电池来评估,可加快电池的设计迭代。
2、改进搅拌涂布工艺。可通过膜片电阻率和厚度测量评估浆料是否分散均匀,沉降状况、涂布烘烤是否合理。
3、制定电池生产的工艺时间,如极片在大气环境中储存时间与电阻率的变化关系,从而确定极片在生产线允许保存的时间。
4、测量固态电解质压力下的电阻率,为优化固态电解质提供方向.
5、优化粉体材料的生产工艺,监控粉体材料的生产品质。