四探针电阻测试仪

贴片元件制造，测试平台为高耐磨高绝缘性材料制造，稳定可靠、精度更高，电阻量程大

选配不同探头，可测试多种材料，高耐磨碳化钨探针探头可测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上不同测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

除基本特点外，有双电测功能，消除了样品边缘和探针间距不准带来的误差

选配不同探头，可测试多种材料，高耐磨碳化钨探针探头可测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上不同测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

除基本特点外，有双电测功能，消除了样品边缘和探针间距不准带来的误差，量程大，更广的测试范围，特别适合检测机构研究所等电阻范围变化较大的单位使用

选配不同探头，可测试多种材料，高耐磨碳化钨探针探头可测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上不同测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

高精度稳定可靠外，有双电测功能消除样品和探针间距带来的误差，同时在测电阻的同时可测样品厚度，避免手工输入的错误，同时可确保厚度和电阻在样品同一位置取值，避免样品厚度不均匀带来的测试误差。

选配不同探头，可测试多种材料，高耐磨碳化钨探针探头可测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上不同测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

高精度稳定可靠外，有双电测功能消除样品和探针间距带来的误差，同时在测电阻的同时可测样品厚度，避免手工输入的错误，同时可确保厚度和电阻在样品同一位置取值，避免样品厚度不均匀带来的测试误差。

选配不同探头，可测试多种材料，高耐磨碳化钨探针探头可测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上不同测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。